良率發(fā)表時間：2022-07-27 14:57 被測試芯片經(jīng)過全部測試流程后，測試結(jié)果為良品的芯片數(shù)量占據(jù)全部被測試電路數(shù)量的比例 上一篇CMOS、CMOS 工藝
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